Ewing의 장치에 의한 Young률 측정(measurement) (micrometer장치)
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작성일 24-06-18 00:33
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각 추에 대응하는 막대의 중심점 강하를 식에 대입하여 Young률 y1, y2, y3, y4, y5 를 계산하고 mean or average(평균) 하여 시료막대를 구성하는 물질의 Young률 Y를 결정한다.
추 M1, M2, M3, M4, M5를 order (차례) 로 올려 놓으면서 그 때의 눈금 y1, y2, y3, y4, y5 를 읽는다.
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Ewing의 장치에 의한 Young률 측정(measurement) (micrometer장치)
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Ewing의 장치에 의한 Young률 측정 (micrometer장치)에 대한 글입니다. y1 와 y`1의 mean or average(평균) 을 라한다. 거울 G와 자 S사이의 거리를 줄자로 여러 번 측정(測定) 하여 그 mean or average(평균) 을 L이라 한다
광학지레를 흰 종이 위에 놓고 살짝 눌러 3발의 자국을 내고 거울면에 평행한 2 발을 잇는 직선에 다른 한 발에서 수선을 내려 그 길이를 d라 하면 추 M1으로 인한 막대의 중심점의
강하 e1은 가 된다
시료 막대의 폭 a, 두께 b를 마이크로미터 또는 버니어 캘리퍼로, 두 받침날 사이의 간격l을 줄자로 여러 번 측정(測定) 하여 mean or average(평균) 한다. 다음에 추를 order (차례) 로 내려 놓으면서y`4, y`3, y`2, y`1,y`0를 읽는다. 그러기 위해서 우선 망원경의 촛점을 자와 거울과의 거리 L의 2배 되는 곳에 맞추어 놓고 자를 밝게 비추어 거울과 망원경의 각도를 잘 조절하여 자가 망원경을 통해 시야에 들어오게 한다■이 부…(drop)
다.
*이 實驗(실험)의 포인트는 ■자 S 의 눈금의 상을 망원경으로 관측한다.Ewing의장치에의한You , Ewing의 장치에 의한 Young률 측정 (micrometer장치)공학기술레포트 ,
Ewing의 장치에 의한 Young률 측정(measurement) (micrometer장치)에 대한 글입니다.
