SEM 조직관찰
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작성일 24-07-22 04:55
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이러한 표면상을 observation하면 시료의 구성원소 및 조직의 치밀성 등을 평가할 수 있다 또 주사 전자현미경에 에너지 분산형 분광…(생략(省略))
2. theory
SEM 조직관찰
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SEM 조직관찰 , SEM 조직관찰기타실험과제 , SEM 조직관찰
설명
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SEM 조직관찰
실험과제/기타
다. 이러한 한계를 극복하기위해 전자선을 광원으로 사용하는 전자현미경이 개발되었다.ㅏ 이러한 미세 구조에 대한 관심으로 인해 단순한 확대경에서 광학현미경에 이르는 현미경의 발전이 이루어졌다. 이러한 주사전자현미경(Scannning Electron Microscope : SEM)은 고체상태에서 미세조직과 형상을 observation하는 데에 가장 다양하게 쓰이는 analysis기이다.그러나 아무리 성능이 우수한 렌즈를 사용한 광학현미경이라 하더라도 광원으로 사용되는 빛의 파장이 가지는 한계성으로 인해 미세 구조에 상대하여는 observation이 불가능하다. 또한 SEM의 초점심도가 크기 문에 3차원적인 영상의 observation이 용이해서 곡면 혹은 울퉁불퉁한 표면의 영상을 육안으로 observation하는 것처럼 보여준다. 주사전자현미경은 가느다란 전자빔을 시료표면에 주사시켜 2차 전자를 발생하게 하여 입체감 있는 시료의 표면상을 얻기위한 장치이다.
