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3. XRD 에 의한 X선 회절 分析법
레포트/기타
설명
X-Ray Diffractometer, XRD에 마주향하여
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다.
2. XRD의 원리
- X-ray diffraction은 1912년에 결정에 의해서 X-ray가 회절 한다는 현상이 발견됨으로써 X-ra…(투비컨티뉴드
)
(1) 주사회전축(Scan axis) 선택
① ?/2? 축 : 가장 보편적으로 사용되는 방법으로 X-선원이 고정되어 있는 상태에서 시료는 ?로, 카운터는 2?로 회전하며 측정(測定)
하는 방법
② 2?축 : ?를 고정(시료고정)하고 카운터만 2?로 회전하며 측정(測定)
하는 방법 측정(測定)
시 시료 면에 대하여 작은 각도 ?(보통 0.5-3˚)로 X-선을 입사 시켜 X-선의 침 투깊이를 감소시킴으로써 표면에서의 회절빔을 efficacy적으로 검출하기 위해 사용된다
③ ?축 : Rocking-curve 측정(測定)
시 사용되며, 2?를 고정(카운터 고정)하고 시료만 ?로 회전하며 측정(測定)
하는 방법
① 연속적 주사(Continuous scan)
② 단속적 주사(Step scan)
①시료의 종류, 측정(測定)
목적에 따라 필요한 각도 범위로 주사한다.
②어떤 물질인지 알고 있을 때는 JCPDS Card를 이용하여 측정(測定)
범위를 결정
③미지시료의 경우는 넓은 범위(2?=5-140˚정도)를 빠른 속도로 측정(測定)
하고, 특정 peak 위치를 정확히 측정(測定)
하고자 할 때는 특정 peak 위치의 좁은 구간(2-3˚정도)을 천천히 측정(測定)
하는 것이 좋다. 이를 응용하면 물질의 미세 구조를 보다 정확하게 알 수 있다
- 회절 X선 스펙트럼을 이용하는 시constituent
석법. X선 회절사진의 흑화도를 측정(測定)
하든가 또는 X선 회절계를 사용해서 고체시료의 회절 X선을 취해서 물질의 동정(同定) 혼합분말의 혼합화의 결정, 고용체의 分析 등을 하는 방법등이 있다
최근에는 자기(自記) X선 회 절계가 발달했기 때문에 단색 X선에 의한 분말결定義(정이) 산란강도 분포측정(測定)
이나 면간격 을 이미 알고 있는 결定義(정이) 면반사를 이용해 입사 X선의 파장스펙트럼 分析을 자동적 으로 할 수가 있도록 되었다.
1. X-Ray Diffractometer, XRD란?
- XRD란 X-Ray Diffraction의 약자로서 X-ray를 어떠한 샘플에 투사하면 X선이 산란 및 회절을 하게 되는데 이러한 회절 패턴을 分析하는 것을 말한다.
④Wide angle goniometer의 경우 측정(測定)
가능한 범위는 2?=3-145˚이다.